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屏類
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GB/T 2423電工電子產品環境試驗國家標準匯編
更新時間:2010-01-06 點擊量:
4647
電工電子產品環境試驗
國家標準匯編
(
第四版
)
目錄
GB/T 2421
-
1999
電工電子產品環境試驗
第
1
部分:總則
GB/T 2422
-
1995
電工電子產品環境試驗
術語
GB/T 2423.1
-
2001
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
A
:低溫
GB/T 2423.2
-
2001
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
B
:高溫
GB/T 2423.3
-
2006
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
cab
:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4 1993
電工電子產品基本環境試驗規程
試驗
Db
:交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.5
-
1995
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
Ea
和導則:沖擊
GB/T 2423.6
-
1995
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
Eb
和導則:碰撞
GB/T 2423.7
-
1995
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
Ec
和導則:傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品)
GB/T 2423.8
-
1995
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法
試驗
Ed
:自由跌落
GB/T 2423.10
-
1995
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
Fc
和導則:振動(正弦)
GB/T 2423.15
-
1995
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法
試驗
Ga
和導則:穩態加速度
GB/T 2423.16
-
1999
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
J
和導則:長霉
GB/T 2423.17
-
1993
電工電子產品基本環境試驗規程
試驗
Ka
:鹽霧試驗方法
GB/T 2423.18
-
2000
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗試驗
Kb
:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)
GB/T 2423.21
-
199l
電工電子產品基本環境試驗規程試驗
M
:低氣壓試驗方法
GB/T 2423.22
-
2002
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法
試驗
N
:溫度變化
GB/T 2423.23
-
1995
電工電子產品環境試驗
試驗
Q
:密封
GB/T 2423.24
-
1995
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法
試驗
Sa
:模擬地面上的太陽輻射
GB/T 2423.25
-
1992
電工電子產品基本環境試驗規程
試驗
Z/AM
:低溫
/
低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26
-
1992
電工電子產品基本環境試驗規程
試驗
z/BM
:高溫
/
低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.27
-
2005
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法
試驗
Z/AMD
:低溫
/
低氣壓
/
濕熱連續綜合試驗
GB/T 2423.28
-
2005
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
T
:錫焊
GB/T 2423.30
-
1999
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
XA
和導則:在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.31
-
1985
電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗方法
GB/T 2423.32
-
1985
電工電子產品基本環境試驗規程
潤濕稱量法可焊性試驗方法(
GB/T 2423.33
-
2005
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
Kca
:高濃度二氧化硫試驗
GB/T 2423.34
-
2005
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
Z/AD
:溫度
/
濕度組合循環試驗
GB/T 2423.35
-
2005
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
Z/AFc
:散熱和非散熱試驗樣品的低溫
/
振動(正弦)綜合試驗
GB/T 2423.36
-
2005
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法
試驗
Z/BFc
:散熱和非散熱試驗樣品的高溫
/
振動(正弦)綜合試驗
GB/T 2423.37
-
2006
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
L
:沙塵試驗
GB/T 2423.38
-
2005
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
R
:水試驗方法和導則
GB/T 2423.39
-
1990
電工電子產品基本環境試驗規程
試驗
Ee
:彈跳試驗方法
GB/T 2423.40
-
1997
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
Cx
:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41
-
1994
電工電子產品基本環境試驗規程
風壓試驗方法
GB/T 2423.42
-
1995
電工電子產品環境試驗
低溫
/
低氣壓
/
振動(正弦)綜合試驗方法
GB/T 2423.43
-
1995
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊(
Ea
)、碰撞(
Eb
)、振動(
Fc
和
Fd
)和穩態加速度(
Ga
)等動力學試驗中的安裝要求和導則
GB/T 2423.45
-
1997
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
z/ABDM
:氣候順序
GB/T 2423.47
-
1997
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法
試驗
Fg
:聲振
GB/T 2423.48
-
1997
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
Ff
:振動--時間歷程法
GB/T 2423.49
-
1997
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
Fe
:振動--正弦拍頻法
GB/T 2423.50
-
1999
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法
試驗
cy
:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
GB/T 2423.51
-
2000
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
Ke
:流動混合氣體腐蝕試驗
GB/T 2423.52
-
2003
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
77
:結構強度與撞擊
GB/T 2423.53
-
2005
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
xb
:由手的摩擦造成標記和印刷文字的磨損
GB/T 2423.54
-
2005
電工電子產品環境試驗
第
2
部分:試驗方法
試驗
xc
:流體污染
GB/T 2423.55
-
2006
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
Eh
:錘擊試驗
GB/T 2423.56
-
2006
電工電子產品環境試驗第
2
部分:試驗方法試驗
Fh
:寬帶隨機振動(數字控制)和導則
GB/T 2424.1
-
2005
電工電子產品環境試驗
高溫低溫試驗導則
GB/T 2424.2
-
2005
電工電子產品環境試驗
濕熱試驗導則
GB/T 2424.5
-
2006
電工電子產品環境試驗
溫度試驗箱性能確認
GB/T 2424.6
-
2006
電工電子產品環境試驗
溫度
/
濕度試驗箱性能確認
GB/T 2424.7
-
2006
電工電子產品環境試驗
試驗
A
和
B
(帶負載)用溫度試驗箱的測量
GB/T 2424.10
-
1993
電工電子產品基本環境試驗規程
大氣腐蝕加速試驗的通用導則
GB/T 2424.11-82
電工電子產品基本環境試驗規程
接觸點和鏈接件的二氧化硫試驗導則
GB/T 2424.12-82
電工電子產品基本環境試驗規程
接觸點和連接件的硫化氫試驗導則
GB/T 2424.13-81
電工電子產品基本環境試驗規程
溫度變化試驗導則
GB/T 2424.14-1995
電工電子產品基本環境試驗規程
第
2
部分
:試驗方法
太陽輻射試驗導則
GB/T 2424.15-92
電工電子產品基本環境試驗規程
溫度
/
低氣壓綜合試驗導則
GB/T 2424.17-1995
電工電子產品基本環境試驗規程
錫焊試驗導則
GB/T 2424.18-82
電工電子產品基本環境試驗規程
在清洗濟中浸漬試驗導則
GB/T 2424.19-84
電工電子產品基本環境試驗規程
模擬儲存影響的環境試驗導則
GB/T 2424.20-85
電工電子產品基本環境試驗規程
傾斜和搖擺試驗導則
GB/T 2424.21-85
電工電子產品基本環境試驗規程
潤濕稱量法可焊性試驗導則
GB/T 2424.22-86
電工電子產品基本環境試驗規程
溫度(低溫、高溫)和振動(正
玄)綜合試驗導則
GB/T 2424.23-90
電工電子產品基本環境試驗規程
水試驗導則
GB/T 2424.24-1995
電工電子產品基本環境試驗規程
溫度(低溫、高溫)
/
低氣壓
/
振動(正玄)綜合試驗導則
GB/T 2424.25-2000
電工電子產品環境試驗
第三部分:試驗導則
地震試驗方法
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